老化試驗箱對半導體材料（liào）的測試原理（lǐ）

老化試驗箱對半導體（tǐ）材料的測（cè）試原（yuán）理（lǐ）

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老（lǎo）化試驗箱對（duì）半導體材料的（de）測試原理是為什麽呢？草莓樱桃丝瓜绿巨人秋葵番茄香蕉污儀器老化試驗箱HD-704一般可做二種測試：老化與耐黃變，老化：本機（jī）可促進加硫橡膠之（zhī）劣化，以（yǐ）計算加熱前後拉力及伸（shēn）長之變化率，一般認為在70 ℃下測試一天，理論（lùn）上相當於暴露在大氣中6個月的時間。耐黃：本機是模擬大氣環境中，受（shòu）陽光（guāng）紫外線照射，外觀變化一般認為在50℃下測試9小時，理論上相當（dāng）於暴露在大氣中6個月的時間（jiān）。

在老化階段進行半導體測試之所以有意義有多種原因，在探討這些原因之前，我們首（shǒu）先要明確“測（cè）試”的真正含義。

一般（bān）半導體測試要用到昂貴的高速自（zì）動測試設備，在一個（gè）電性能（néng）條件可調的測試台上對半導體作測試。它（tā）還可以在（zài）標稱性能範圍之外進行，完成功能（邏輯）和參（cān）數（速度）方（fāng）麵的測試，像信號升降時間之類的參數可到皮（pí）秒級。也許是因為可（kě）控測試環境隻有一個（gè）器件（jiàn）作為電性負載，所以信號轉換（huàn）很快，能夠進行真實（shí）的器件響應參數測量。

但在老（lǎo）化的時候，為提高產（chǎn）品的產量是能夠同時對盡（jìn）可能多的器件作老化。為滿足這一要（yào）求，可把多個器件裝在一個大的印刷線路板上，這個板稱為老化板，它上麵（miàn）的所有器件都並聯在一起。大型老化板的物理電氣特性不能和隻測試一個器件的小測試台相比，因為老化板上的容性和感性負載會給（gěi）速度測試帶（dài）來（lái）麻煩。所以我們通常無法用老化進行所有功能測（cè）試。不過在某些（xiē）情況下，運用特殊的係統設計技術在老化環境下進行速度測試也是可能的。

老化係（xì）統（tǒng）中的“測（cè）試”可以指任何方麵，從（cóng）對（duì）每一器件每一（yī）管腳進行基本信（xìn）號（hào）測試，到（dào）對老（lǎo）化板上的所有器件作幾乎100%功能測試（shì），這一切均視器件複雜性及所選用的老化測試係統而定。可以說（shuō）對任何器件進行（háng）100%功能測試都是可以做得（dé）到（dào）的（de），但是這樣采用（yòng）的方法可能會減（jiǎn）少老化板上的器件密（mì）度，從而增加（jiā）整體成本並降低產量。

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