更新時間:2011-01-22
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適用導磁材料上的非導磁(cí)層厚(hòu)度測量.導磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳.此種方法測量精度高
適用導電金(jīn)屬上的(de)非導電層厚度(dù)測量.此種方法較磁性(xìng)測厚法精(jīng)度低
目前國內還沒有用(yòng)此(cǐ)種方法測量塗鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣(yàng)的儀器,適用多層塗鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測量的場合.但一般價格昂貴\測量精度也不高.
此方法(fǎ)有別(bié)於以上三種,不屬於無損檢測,需要破壞塗(tú)鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩(fán)
此種(zhǒng)儀器價格非常昂貴(一般在(zài)10萬RMB以上),適用於一(yī)些特殊場合.
測量原理與儀器
*磁鐵(測頭)與(yǔ)導磁(cí)鋼材之間的(de)吸力(lì)大小(xiǎo)與處(chù)於(yú)這兩者之間的(de)距離成一(yī)定比例關係,這個距離就是覆層的厚度。利用這(zhè)一原理製成測(cè)厚儀,隻要覆層與基材的導磁率之(zhī)差足夠大(dà),就可進行測量。鑒(jiàn)於大多數工業品采(cǎi)用結構鋼和熱軋冷軋鋼板衝壓成型,所以磁性(xìng)測厚儀應用zui廣。測厚儀基本結構由(yóu)磁鋼,接力簧,標尺及自停機(jī)構組成。磁鋼與被測物吸(xī)合後,將測量簧在其後逐漸拉長,拉力逐漸增大。當拉力剛好大於吸力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的(de)大小即可獲得(dé)覆層厚度。新(xīn)型的產品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程(chéng)與適用場合。
這種儀器的特點是(shì)操作簡便(biàn)、堅固耐(nài)用、不用電源,測量前(qián)無須校(xiào)準,價格也較(jiào)低,很適(shì)合(hé)車間做現場質量控製(zhì)。
采用磁感應原理(lǐ)時(shí),利用從測頭經過非鐵磁(cí)覆層而流(liú)入鐵磁基(jī)體的磁通的大小(xiǎo),來測定覆層厚度。也可以測(cè)定與(yǔ)之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀,原(yuán)則上可以有導磁基體(tǐ)上的(de)非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆(fù)層材料也有磁性,則要求與基(jī)材的導磁率(lǜ)之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試(shì)信號。早期的產品采用指針式表頭,測(cè)量感應電動勢(shì)的大小,儀器將該信(xìn)號放大後來指示覆層厚度。近年來的(de)電路設計引入穩頻、鎖相(xiàng)、溫度補(bǔ)償等地新技術,利用磁阻來調製測量信號。還采用設計(jì)的集成(chéng)電路,引入微機,使測量精度(dù)和重現性有了大幅度(dù)的提高(幾乎達一個數量級)。現代的磁感(gǎn)應測厚儀,分(fèn)辨率達到0.1um,允(yǔn)許誤差達1%,量程達10mm。
磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表麵的油漆層,瓷(cí)、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬(shǔ)電鍍層,以及化工石油待業的各種防腐塗層。
高頻交流信號在測(cè)頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體(tǐ)時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋作用量表(biǎo)征了測頭與導電基(jī)體之間距離的大小,也就是(shì)導(dǎo)電基體上非(fēi)導電覆(fù)層厚度的大小(xiǎo)。由於這類測頭專門測量非鐵磁金屬基(jī)材上的覆(fù)層厚度,所以通常稱之為非磁性(xìng)測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合(hé)金或其(qí)它新(xīn)材(cái)料。與(yǔ)磁感應原理比較,主要區別是測頭(tóu)不(bú)同,信號的頻率不同,信號的(de)大小、標度關係不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流(liú)測厚儀也達到了(le)分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
采用電渦流原理(lǐ)的測厚儀(yí),原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量(liàng),如航天航(háng)空器表麵、車輛、家(jiā)電、鋁合金門窗及其它鋁製品表麵的漆(qī),塑料塗層及陽極氧化膜。覆層材料有一(yī)定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者(zhě)的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻(gè))。雖然鋼鐵基體亦(yì)為導電體,但(dàn)這類任務還是采用(yòng)磁性原理測量較為合適
1.影響因素的(de)有關說明
a基體金(jīn)屬磁性質
磁性(xìng)法測厚受(shòu)基體金屬磁性(xìng)變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的(de)影響,應使用與(yǔ)試件基體金屬具有相同(tóng)性質的標(biāo)準片對儀(yí)器進行校(xiào)準;亦可(kě)用待(dài)塗覆試件進行校準。
b基體金屬電性質
基體金(jīn)屬的電導率對測量(liàng)有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及(jí)熱處理方法有關。使用(yòng)與試件基體金屬具有相(xiàng)同性質的標準片對儀器進行校準。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大於(yú)這個厚度(dù),測量就不受基體金屬厚度(dù)的影響。本(běn)儀器的臨(lín)界厚度值見附表1。
d邊緣效(xiào)應
本儀器對試件表麵形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠(kào)的。
e曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增(zēng)大。因此,在彎(wān)曲試件(jiàn)的表麵上測量是不可(kě)靠(kào)的。
f試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形,因(yīn)此在這些試件上測出可靠(kào)的數據。
g表麵粗糙度
基(jī)體金屬和覆蓋層的表麵粗糙程度對(duì)測量有影(yǐng)響。粗糙程(chéng)度增大,影響增大。粗(cū)糙表麵會引起係統誤差和偶(ǒu)然誤差(chà),每次測量(liàng)時,在(zài)不同位置上應增加測量的次數,以克(kè)服(fú)這種偶然誤差。如果基(jī)體金(jīn)屬(shǔ)粗糙,還必須在未塗覆的粗糙度相類似的基(jī)體金屬(shǔ)試件上取幾個位(wèi)置校對儀(yí)器的零點;或用對基體金屬沒有(yǒu)腐蝕的(de)溶液溶解除去覆蓋層後,再校對儀(yí)器的零點。
g磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁(cí)場,會嚴重地幹擾磁性法測厚工作。
h附著物質(zhì)
本(běn)儀器對那些妨礙測頭與覆(fù)蓋層表麵緊密(mì)接觸的附著(zhe)物(wù)質敏感,因此,必須清除(chú)附著物質,以保證儀器測頭和被測試件表(biǎo)麵直接接(jiē)觸。
i測(cè)頭壓力
測頭置於試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,要保(bǎo)持壓力恒定。
j測頭(tóu)的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量(liàng)中,應當使測頭與(yǔ)試樣(yàng)表麵保持垂直。
2.使用儀(yí)器時應當(dāng)遵守的規定
a基體金屬特性
對於磁性方(fāng)法,標準片的基體金(jīn)屬的磁性(xìng)和表麵粗糙度,應當與試件基體(tǐ)金屬的磁性和表麵(miàn)粗糙度相似。
對於渦流方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應當與(yǔ)試件基(jī)體金屬的電性質相似。
b基體金(jīn)屬厚度
檢查基體金屬(shǔ)厚度是否超(chāo)過臨界厚度,如果沒有(yǒu),可采用3.3中(zhōng)的某種方法進行校準。
c邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等(děng)處進行測量。
d曲率(lǜ)
不應在試件(jiàn)的彎曲表麵上測量。
e讀數次數
通常由(yóu)於儀器的每次讀數並不*相同,因此必須在每一測量麵積內取幾個讀數。覆蓋層厚(hòu)度(dù)的局部差異,也要(yào)求(qiú)在任一給定(dìng)的麵積內進行多次測量,表麵粗造時更應如此。
f表麵清潔度
測量(liàng)前(qián),應(yīng)清除(chú)表麵上的任何(hé)附著物質,如塵土(tǔ)、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質
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